冷場發射透射電鏡JEM-F200

    2016年新年伊始，日本電子株式會社（JEOL）即全球同步推出了新款場發射透射電鏡JEM-F200。

       為了全面整合近年發展起來的透射電鏡上的各種功能，JEM-F200進行了全新設計，在保障各種功能達到極限的同時，追求操作的簡單化和自動化，為用戶提供透射電鏡操作的全新體驗。具體特點表現為：

      1）精煉的全新設計：在提高機械和電氣穩定性的同時，憑借對透射電鏡的豐富經驗，對電鏡整體進行了精煉全新設計，力求為用戶提供全新感受；

      2) 四級聚光鏡設計：為了最大程度發揮出STEM功能，JEM-F200進行了全新概念的四級聚光鏡設計，亮度和彙聚角可以分別控製；

      3）高端掃描系統：在照明系統掃描功能之上又增加了成像系統的掃描功能（選購件）可以獲得大範圍的STEM-EELS；

      4）皮米樣品台控製：標配的壓電陶瓷控製樣品台，可以在原子尺度上獲得精準的移動；

      5）全自動裝樣測角台（SPECPORTER）：樣品杆的插入拔出隻需電鈕即可全自動實現，彰顯其便利性及安全性；

     6）成熟的冷場發射技術：將JEOL應用在球差校正技術上的高端冷場發射技術移植到普通的場發射透射上，可獲得更好的高分辨觀察、更高效的成分分析和更好的化學結合狀態分析；

     7）雙超級能譜設計：可安裝雙超級能譜，將普通電鏡能譜的分析能力拓展到原子尺度；

     8）節能減排：啟用省電模式耗電量降低80%。