賽默飛 Talos F200X S/TEM 透射電子顯微鏡

Talos F200X S/TEM

產品描述

Talos F200X 掃描 / 透射電子顯微鏡 (S/TEM) 具有最為快速、準確且量化 的多維納米材料表征分析能力。Talos F200X S/TEM 的創新功能可提高通 量、精度與易用性，非常適於學校、 政府和工業研究環境中的納米級研究 與分析。

高分辨率成像，獲取更高質量的數據

Thermo ScientificTM TalosTM F200X S/TEM 融合了出色的高分辨 率 STEM 和 TEM 成像功能與行業領先的能譜儀 (EDS) 信號檢 測功能及基於成分分析的三維化學表征功能。Thermo Scientific VeloxTM S/TEM 控製軟件通過智能掃描引擎、基於多個 STEM 探 測器的四通道集成以及用於分辨樣品磁疇、電疇分布的差分相位 襯度 (DPC) 成像，大幅改善了成像效果。可為 EDS 數據處理和 量化分析提供極高的速度和精確度。

X-FEG 高亮度電子槍可提供更高的總電流(最高為標準肖特基 FEG 電子束電流的五倍)，同時可維持較小的會聚角。您可以獲 取 STEM、EDS 和高分辨率 TEM 應用所需的卓越的圖像分辨率 和信噪比。X-FEG 不僅非常穩定，而且壽命很長，可實現出色的 成像效率。

視野更大，速度更快

Talos D/TEM 上的快速 TEM 成像支持高分辨率和原位 動態觀察。 Thermo Scientific Ceta 16MTM 相機具有大視場並能夠以 25 fps 的快速率捕捉圖像，同時壓電載物台可確保高靈敏度、無漂移成 像和精確樣品導航，從而節約時間並允許您從每個樣品中獲取更 多數據。

加快納米級分析以更快獲取答案

Talos F200X S/TEM 包括獲得專利的 Thermo Scientific Super-XTM、 集成四個矽漂移探測器 (SDD) 的 EDS 系統，可提供出色的靈敏 度和高達 105 光譜 / 秒的掃描能力。與 X-TWIN 物鏡集成，可最 大限度提高收集效率，同時可實現給定電子束電流(甚至是低強 度 EDS 信號)的出色輸出計數率。

更輕鬆地開展研究

憑借友好的數字用戶界面和領先的人體工程學設計，Talos S/TEM 使成像和分析工作流程可為更多科學家所用。快速的圖像 采集，加之易於使用的操作平台，即使是經驗不足的操作者也能 夠快速收集結果。人機分離的遠程操作設計顯著提高了易用性， 舒適性和電鏡的穩定性。此外，為了確保維持工作效率，Talos S/TEM 配備了新型設備狀態記錄和診斷軟件。該軟件可收集主要 的儀器參數，有助於遠程診斷和支持。

特點與用途

功能

• 領先的光學性能 :恒定功率 X-TWIN 物鏡 
  
• 最大程度提高易用性:快速輕鬆的操作切換，適用於多用戶環境 
  
• 超穩定平台 :恒定功率物鏡、壓電載物台、牢固的系統機殼和 遠程操作可確保最高的穩定性 
  
• SmartCam 攝像頭 :數字搜索和查看攝像頭顯著提高了操作便 利性，讓使用者可以離開暗室進行遠程操作。 
  
• 完全集成的快速相機 :Ceta 16M 像素 CMOS 相機可提供大視 場和高讀取速度(512 x 512 時為 25 fps)
  
• 全面的遠程操作 :自動光闌系統與 Ceta 相機相結合，支持全 面的遠程操作 
  
• 豐富的分析功能 :Talos S/TEM 使用 EDS 立體成像技術將樣品 成分分析功能從二維擴展至三維。 
  

產品參數

X-FEG 亮度       1.8 × 109 A/cm2 srad(200 kV 時)

總電子束電流     > 50nA

束斑電流       1.5 nA @ 1 nm 束斑 (200 kV)

Super-X EDS 系統    采用對稱設計的 SDD 能譜探頭， 無窗設計，受機械快門保護

能量分辨率  Mn-Kα 和 10 kcps 時 ≤ 136 eV (輸出)

快速 EDS 面分析    像素駐留時間短至 10 μs

STEM HAADF 分辨率  0.16 nm

EDX 立體角 0.9 srad

TEM 信息分辨率 0.12 nm

最大衍射角度 24 ?

雙傾樣品杆的最大傾斜角度 ±35° α 傾角 /±30° β 傾角

樣品台最大傾斜角度 ±90 ?