第八代多功能掃描探針顯微鏡Bruker-MultiMode 8

產品介紹

儀器簡介：

MultiMode平台是世界上應用最廣泛的掃描探針顯微鏡（SPM），已經在全球成功安裝使用了近萬套。它的成功基於其領先的高分辨率和高性能，無與倫比的多功能性，以及已經得到充分證實的效率和可靠性。現在，MultiMode掃描探針顯微鏡以其獨特的ScanAsyst模式，采用其先進的自動圖像優化技術，使得用戶無論具備什麼技能水平，也能在材料科學，生命科學，聚合物研究領域的研究中最迅速地獲得符合要求的研究成果。
           SPM的控製電路也是影響性能的重要因素，第五代的NanoScope V控製器具有先進的數字架構：具有高數據帶寬，低噪聲數據采集和無與倫比的數據處理能力。布魯克的最先進的技術已經開創工業上的新標準，例如：ScanAsyst 模式 & PeakForce QNM 模式。
          Multimode 的加熱和製冷裝置能對樣品進行加熱與製冷，適合於生物學，聚合物材料以及其他材料研究應用。采用加熱和製冷裝置後MULTIMODE 可在零下35ºC到250 ºC範圍內對樣品進行溫度控製；並可以在水，溶液或緩衝劑的液體環境中進行掃描。當在氣體環境下對樣品進行掃描時，采用環境控製艙可以在大氣壓標準下控製環境氣體的成分。

技術參數：

1. 顯微鏡：多種可選Multimode SPM掃描頭
AS-0.5系列：橫向(X-Y)範圍0.4µm×0.4µm,豎直(Z)範圍0.4µm
AS-12系列：橫向(X-Y)範圍10µm×10µm,豎直(Z)範圍2.5µm
AS-130系列：橫向(X-Y)範圍125µm×125µm,豎直(Z)範圍5.0µm
PF50：橫向(X-Y)範圍40µm×40µm,豎直(Z)範圍20µm
2. 噪聲：垂直(Z)方向上的RMS值＜0.3埃 （帶防震系統的測量值）
3. 樣品大小：直徑≤15mm, 厚度≤5mm
4. 針尖/懸臂支架：
    空氣中輕敲模式/接觸模式(標準)
    液體中輕敲模式/力調製(可選) 
    空氣中力調製(可選)；電場模式(可選)
    掃描熱(可選-需要大的光學頭或者外加的應用組件)
    STM轉換器(可選)
    低電流STM轉換器(可選)；接觸模式液體池(可選)
    電化學AFM或STM液體池(可選)
    扭轉共振模式(可選)
5. 防震和隔音：
    矽膠共振模式(可選)
    防震三腳架(可選) ；防震台(可選) 
    集成的防震台和隔音罩(可選)

主要特點：

1. 世界上最高的分辨率
2. 出眾的掃描能力
3. 優異的可操作性
4. 非凡的靈活性與功能性
5. 無限的應用擴展性
Multimode可以實現全面的SPM表面表征技術，包括：
 輕敲模式(Tapping Mode AFM)
 接觸模式(Contact Mode AFM)
 自動成像模式(ScanAsyst)
 相位成像模式(Phase Imaging)
 橫向力術模式(laterial Force Microscopy, LFM)
 磁場力顯微術(Magnetic Force Microscopy, MFM)
 掃描隧道顯微術(Scanning Tunneling Microscopy, STM)
 力調製(Force Modulation)
 電場力顯微術(Electric Force Microscopy, EFM)
 掃描電容掃描術(Scanning Capacitance Mcroscopy, SCM)
 表面電勢顯微術(Surface Potential Microscopy)
 力曲線和力陣列測量(Force-Distance and Force Volume Measurement)
 納米壓痕/劃痕(Nanoindenting/Scratching)
 電化學顯微術(Electrochemical Microscopy, ECSTM and ECAFM)
 皮牛力譜(PicoForce Force Spectroscopy)
 隧道原子力顯微術(Tunneling AFM, TUNA)
 導電原子力顯微術(Conductive AFM, CAFM)
 掃描擴散電阻顯微術(Scanning Spreading Resistance Microscopy, SSRM)
 扭轉共振模式(Torsional Resonance mode, TR mode)
 壓電響應模式(Piezo Respnance mode, PR mode)
 其他更多模式....