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產品介紹
JCM-7000台式掃描電子顯微鏡是日本電子全新推出的一款台式掃描電子顯微鏡。其不僅繼承了日本電子大型掃描電鏡所擁有的優異功能,相對於大型掃描電鏡其操作簡單,維護保養容易,體積小巧,價格低廉,檢測速度快,從啟動裝填樣品到測試出結果僅需5分鍾左右。JCM-7000還創新的加入了實時能譜分析和實時3D顯示的功能,更便捷高效的服務於您的研究和工作。
JCM-7000主要功能:
◆ 在同一個視野上可以從光學圖像無縫過渡到(SEM)圖像
◆ 邊觀察邊進行元素分析
◆ 通過自動功能使從低倍率到高倍率獲得清晰圖像變得更容易
◆ 低真空 (LV) 模式可以用來直接觀測不導電的樣品
◆ 高真空 (HV) 模式可以進行高倍率詳細形貌的觀察
◆ 在同一視野上可以實時顯示3D圖像 (Live 3D)
◆ 自動布局且可以一鍵輸出結果(SMILE VIEW TM Lab)
以下介紹幾個應用實例,方便您對我們這款產品有一個更直觀的了解:

上圖測試的樣品是岩鹽,JCM-7000可以由光學成像連續無縫過渡到SEM成像。

上圖測試的樣品是合金,JCM-7000通過高靈敏度探測器既可以實時顯示視野範圍中的主要組
成元素,也能實時顯示各種元素的面分布情況。

上圖測試的樣品是螺絲,JCM-7000采用新型高靈敏度4分割背散射電子探測器,利用實時3D功能,
實現了四種掃描電鏡(成分、凹凸、陰影)圖像和三維圖像的采集和顯示,由圖可以清晰看出
螺絲的凹凸紋理。

上圖測試的樣品是 SUS304不鏽鋼斷裂面,JCM-7000利用高真空模式和SEM圖像觀察,可以進行更
精細的表面形貌觀察,如圖所示在高真空條件下可以清晰的觀察條紋和韌窩的解理面,由此推
斷其斷裂成因。

上圖測試的樣品是玻璃,由圖可以看出透明樣品斷面在光學顯微鏡下很難觀察形貌,在低真空
下,相同放大倍數的SEM成像可以呈現清晰的表面形貌,放大後可清晰的觀察細節SEM成像。
生產廠家相關信息:
JEOL是日本一家知名的科研儀器廠家,在全球享有盛譽。JEOL目前面向中國及全球生產銷售各
型掃描電子顯微鏡、透射電子顯微鏡、X射線熒光光譜儀、核磁共振儀等設備,是世界上僅有的一家
可以提供全系列電鏡解決方案的科研公司。產品運用覆蓋了材料科學、生命科學等學術技術領域,在
無機、有機化合物、金屬材料,土壤,礦產,醫藥,精細化工,電子材料,生物樣品等的定性和定量
分析鑒定上廣受推崇。在中國國內,眾多重點實驗室、科學院部門、科研院所、大專院校、醫療機構、
政府機構和企業單位都有JEOL的產品。
注:對於醫療器械類產品,請先查證核實企業經營資質和醫療器械產品注冊證情況。

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