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JEOL JIB-4700F 聚焦離子束(FIB)
產品詳情
產品介紹
儀器簡介：
JIB-47000F是集成掃描電鏡和聚焦離子束於一身高性能儀器。電子光學系統采用場發射電子槍，可以對進行實時研磨監控。該儀器又是一個微區觀察、樣品分析、微區研磨的集合體，應用範圍廣泛。
技術參數：
FIB 分辨率: 5nm, 30kV
SEM分辨率: 1.2 nm（15 kV）1.6 nm（1KV）
FIB束流：最大90nA
SEM束流：最大300nA
氣體輸入系統 x1-3
主要特點：
- 監控、切割、組裝和三維圖像重構連續操作
2大束流，最大90nA
3.提供空前穩定的圖像
4.氣體注入系統用於刻蝕和沉積
5.最大裝樣 150 mm
6.氣鎖式樣品交換
7.五軸全對中樣品台
8.多個樣品分析接口
9.三維圖像、能譜、EBSD
JEOL JIB-4700F 聚焦離子束(FIB)信息由日本電子株式會社(JEOL)為您提供，如您想了解更多關於JEOL JIB-4700F 聚焦離子束(FIB)報價、型號、參數等信息，歡迎來電或留言谘詢。
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