高速分析型場發射掃描電鏡

JSM-7200F是日本電子株式會社(JEOL Ltd.)於2015年推出的一款多功能、簡單易用的分析型場發射掃描電鏡，這款高分辨率掃描電鏡是進行樣品納米級圖像顯微分析與微區化學成分分析的理想選擇。

通過內的最佳光闌角控製透鏡技術，JSM-7200F可以在任意加速電壓下實現小束斑尺寸的大分析束流進而可以輕鬆實現100nm以內的高空間分辨率分析。

JSM-7200F/LV配有大樣品倉，非常適合於搭載的能譜儀、波譜儀、EBSD相機、CL陰極發光探測器、拉伸台、EBL以及SXES（JEOL專利技術，通過探測低能量的波長從而獲得樣品的化學價態信息）等分析探測器。同時，JSM-7200F具有抽屜式樣品倉可以安裝諸如加熱、拉伸以及冷凍樣品台進行原位分析。