布魯克 D8 達芬奇 X射線衍射儀

                   布魯克AXS公司全新的D8 ADVANCE X射線衍射儀，采用創造性的達芬奇設計，通過TWIN-TWIN光路設計，成功實現了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自動切換，而無需對光。通過TWIST TUBE技術，使用戶可以在1分鍾內完成從線光源應用（常規粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR）到點光源應用（織構、應力、微區）的切換，讓煩人的光路互換、重新對光等問題從此成為曆史！
高精度的測角儀可以保證在全譜範圍內的每一個衍射峰（注意不是一個衍射峰）的測量峰位和標準峰位的誤差不超過0.01度，布魯克AXS公司提供全球保證！
先進的林克斯陣列探測器可以提高強度150倍，不僅答複提高設備的使用效率， 而且大幅提高了設備的探測靈敏度。

技術指標：                                                
●Theta/theta 立式測角儀                               
●2Theta角度範圍：-110~168°
●角度精度：0.0001度                     
●Cr/Co/Cu靶，標準尺寸光管                  
●探測器：林克斯陣列探測器、林克斯XE陣列探測器                  
●儀器尺寸：1868x1300x1135mm                            
●重量：770kg                                               

應用:
●物相定性分析
●結晶度及非晶相含量分析
●結構精修及解析
●物相定量分析
●點陣參數精確測量
●無標樣定量分析
●微觀應變分析
●晶粒尺寸分析
●原位分析
●殘餘應力
●低角度介孔材料測量
●織構及ODF分析
●薄膜掠入射
●薄膜反射率測量
●小角散射