高速分析型场发射扫描电镜

JSM-7200F是日本电子株式会社(JEOL Ltd.)于2015年推出的一款多功能、简单易用的分析型场发射扫描电镜，这款高分辨率扫描电镜是进行样品纳米级图像显微分析与微区化学成分分析的理想选择。

通过内的最佳光阑角控制透镜技术，JSM-7200F可以在任意加速电压下实现小束斑尺寸的大分析束流进而可以轻松实现100nm以内的高空间分辨率分析。

JSM-7200F/LV配有大样品仓，非常适合于搭载的能谱仪、波谱仪、EBSD相机、CL阴极发光探测器、拉伸台、EBL以及SXES（JEOL专利技术，通过探测低能量的波长从而获得样品的化学价态信息）等分析探测器。同时，JSM-7200F具有抽屉式样品仓可以安装诸如加热、拉伸以及冷冻样品台进行原位分析。